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光谱、探伤、镀层分析仪器

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日立X荧光测厚仪

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所属分类：光谱、探伤、镀层分析仪器

公司品牌：温州j9九游会真人游戏第一品牌赢仪器有限公司

产品简介：X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面处理行业，测量单层和多镀层（包括合金层)。我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化，确保您获得可靠、可重复结果满足数百种应用，包括PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面处理、耐磨损处理、耐高温处理等。X-Strata920精确到毫英寸或微米，为您带来所需的高精度可靠

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