主要特点：
X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。X-Strata920 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。
主要特点包括：
▪ 成本低、快速、非破坏的 EDXRF 分析
▪ 可完成至多 4 层镀层（另加底材）和 15 种元素的镀层厚度测试，自动修正 X 射线重叠谱线
▪ 优异的多元素辨识，广泛覆盖元素周期表上从钛（22 号）到铀（92号）各元素
▪ 测厚行业 20 年知识和经验的积淀
性能和标准：
使用广受推崇的能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920 可实现如下测试要求：
▪ 符合 ISO3497 标准测试方法：金属镀层—X 射线光谱法测量镀层厚度
▪ 符合 ASTM B568 标准测试方法：X 射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层
▪ 至多同时分析 25 种元素
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